Yaşlandırma test sistemleri, tüm elektronik bileşenlerin ve devre kartlarının yapay yaşlandırılması için tasarlanmıştır. Bu, yüksek yoğunluklu ayrık bileşenleri, röleleri, transistörleri, kapasitörleri, SMT ve eksenel bileşenleri de kapsar. Bileşenlerin suni buhar yaşlanması, çok dar bir sıcaklık aralığında, tipik olarak 93 C +/- 5 derecede gerçekleşir. ETSP-STH serisi, şu anda piyasada bu hassasiyeti yakalayabilen te sistemdir. Bu termal hassasiyet, ETSP-STH serilerini komponent üreticileri ve askeri, ticari, endüstriyel son kullanıcılar için ideal kılar.