Elektronik üretimde kalite kontrolünü yeniden tanımlayan CM Contaminometer Serisi, geleneksel ROSE testi ile Process Ionic Contamination Testing (PICT) yöntemini entegre eden, 6 Sigma doğrulamalı bir sistemdir. Bu gelişmiş sistem, elektronik devre kartları, bileşenler ve montajlar üzerindeki iyonik kontaminasyonun son derece hassas şekilde ölçülmesini sağlar ve güvenilir bir test yaklaşımı sunar.