06 – 07 Mayıs 2025 | İstanbul

Seminer kapsamında, sektörün deneyimli isimlerinden Mr. Keith Bryant ve Saki firmasından Mr. Anusorn, modern inceleme süreçlerine dair teknik paylaşımlarda bulundu. İki gün boyunca; aydınlatma tabanlı görüntü işleme, 3D yükseklik ölçüm prensipleri, 2D ve 3D AOI/SPI inceleme yöntemleri, THT ve konformal kaplama kontrolü, inline X-Ray ile gizli lehim bağlantılarının görüntülenmesi ve paketlenmiş ürünlerin otomatik incelenmesi gibi kritik başlıklar incelendi.

Etkinliğin en dikkat çeken bölümlerinden biri, gerçek üretim süreçlerinde karşılaşılan hata örneklerinin analizi oldu. Katılımcılarla birlikte; komponent yüksekliği farkları, fazla lehim, köprü ve çeşitli SPI hata görselleri üzerinden kalite problemlerini önlemeye yönelik çözüm yaklaşımları tartışıldı.

Saki iş birliğiyle düzenlediğimiz bu programda bizlerle olan tüm katılımcılarımıza ve değerli uzmanlarımıza teşekkür ederiz.