Compact SL özellikle şunlar için uygundur:
Compact SL sistemi, endüstriyel olarak aşağıdaki kullanım alanları için özel olarak tasarlanmıştır:
- Parametrik ve devre içi testler
- Fonksiyonel testler
- Dahili programlama
- Hat içi entegrasyon
- Yüksek hacimli üretim
- Otomatik test adaları
- Operatörsüz kullanım
- Taşıma maliyetlerinin azaltılması

Özellikler:
- Kapsamlı test işlemleri için 1536 adede kadar analog kanal barındırır.
- 10 MHz'e kadar ulaşan dijital kanal yetenekleriyle 128 adede kadar hibrit kanal özelliğine sahiptir.
- Sistem konfigürasyonu dahilinde 6 adede kadar kullanıcı güç kaynağı ünitesi destekler.
- Standart kabin kurulumundan yararlanarak bir 2 işli paralel test yürütür.
- Çift kabin ile yapılandırıldığında bir 4 işli paralel test gerçekleştirebilir.
- Dijital bileşenler ve konektörler üzerinde hassas açık pin tanımlaması için OPENFIX teknolojisini içerir.
- Paralel olarak 8 adede kadar üniteyi işleyebilen evrensel bir dahili programlayıcı entegre eder.
- Sınır tarama (boundary-scan) testi prosedürlerine tam destek sağlar.
- Doğrudan modül düzeyinde yürütülen otomatik kendi kendine test (self-test) işlevlerini içerir.
- Pnömatik pres ve üst kontrastlar ile donatılmış gelişmiş bir alıcı sistemine sahiptir.
- Özel çevrimdışı (off-line) programlama ve onarım istasyonları ile uyumludur.
- Otomatik istatistiksel veri toplamanın yanı sıra barkod ve 2D kod okuma süreçlerini yönetir.
- Doğrudan CAD verileri içe aktarımı vasıtasıyla otomatik programlama dizilerini etkinleştirir.

Compact Line, maksimum yapılandırılabilirlik sunmak üzere geliştirilmiştir; kullanıcıya uygulamasına en uygun çözümü seçme imkânı tanır, devre içi test cihazı, fonksiyonel test tezgâhı veya üretim hattına doğrudan entegre edilebilen tam otomatik bir test sistemi.

Yenilik, Yüksek Performans, Esneklik ve Verimlilik
Yalın üretim prensiplerine göre tasarlanan Compact Line, özellikle elektronik kart üretim ortamlarının ihtiyaçlarını karşılamak üzere geliştirilmiştir. Ergonomik açıdan geliştirilmiş ve teknolojik olarak rekabetçi yapısıyla yüksek esneklik, üstün ölçüm doğruluğu, hızlı test süreleri ve minimum alan kullanımı sunar. Tüm bunlar düşük güç tüketimi ile birleşerek yenilikçi ve sürdürülebilir bir çözüm sağlar.

Compact sistemler özellikle şunlar için idealdir:
1. Analog ve dijital devre içi testler
2. Analog, dijital ve güç fonksiyonel testleri
3. Boundary Scan testleri
4. Dijital cihaz programlama (mikrodenetleyici, bellek vb.)
5. Yüksek voltaj testleri

Compact Line, test maliyetlerinin optimize edilmesine odaklanır; alan tasarrufu, kısa test süreleri ve atık azaltımı ön plandadır. Buna rağmen Strategy Line test programları ve fikstürleriyle tam uyumluluk korunur.

Tüm Compact sistemleri, Seica VIP Platformu, ACL sentezli sürü/algı enstrümanları ve VIVA yönetim yazılımı üzerine kuruludur. İhtiyaç hâlinde sistemler LabVIEW™, LabWindows™/CVI ve TestStand™ gibi alternatif yazılımlar ile de kontrol edilebilir.

Yeni performans veya ergonomi ihtiyaçlarında Seica, müşteri gereksinimlerine göre özelleştirilmiş Compact çözümleri sağlayabilir; üçüncü taraf yazılım ve enstrümanları entegre edebilir veya özel donanım/yazılım modülleri geliştirebilir