Compact Multi özellikle şunlar için uygundur:
Compact Multi sistemi, aşağıdaki test uygulamalarına çözüm sunmak üzere tasarlanmıştır:
- Kart fonksiyonel testi
- Ekipman EOL (hat sonu) testi
- Dahili programlama
- ICT/fonksiyonel kombinasyonel test
- Otomatik son test
- Otomatik test dizisinin uygulanması

Özellikler:
- S64N, S64A ve S64F konfigürasyonlarını kullanarak bir analog veri yolu ve matris içerir.
- HRELE modülü tarafından desteklenen bir güç veri yolu ve matris özelliğine sahiptir.
- P32 hibrit kanal kartlarının yanı sıra bir dijital veri yolu kullanır.
- APx ve ALx serileri dahil olmak üzere 12 adede kadar DC güç kaynağının konfigürasyonunu destekler.
- Tescilli cihazları doğrudan ACL modülü üzerine entegre eder.
- Hazır cihazların sorunsuz entegrasyonuna olanak tanır.
- Paralel olarak 8 adede kadar üniteyi yönetebilen evrensel bir dahili programlayıcı içerir.
- Seri, USB, CAN, LIN, K-line ve GPIB gibi çeşitli iletişim protokollerini yönetir.,
- National Instruments Labview ve Teststand işletim sistemlerini kullanarak fonksiyonel test dizilerini yürütür.
- SEICA VIVA işletim sistemi aracılığıyla ICT veya fonksiyonel test dizilerini çalıştırır.
- Modül düzeyinde otomatik kendi kendine test (self-test) yetenekleri sağlar.
- Üst kontrastlı veya kontrast sız olarak yapılandırılmış bir alıcıyı barındırabilir.
- Özel bir ODU konnektör arayüzüne sahiptir.
- Barkod ve 2D kod okuma yönetimini koordine eder.
- Analiz için otomatik istatistiksel veri toplama işlemlerini gerçekleştirir.

Compact Line, maksimum yapılandırılabilirlik sunmak üzere geliştirilmiştir; kullanıcıya uygulamasına en uygun çözümü seçme imkânı tanır, devre içi test cihazı, fonksiyonel test tezgâhı veya üretim hattına doğrudan entegre edilebilen tam otomatik bir test sistemi.

Yenilik, Yüksek Performans, Esneklik ve Verimlilik
Yalın üretim prensiplerine göre tasarlanan Compact Line, özellikle elektronik kart üretim ortamlarının ihtiyaçlarını karşılamak üzere geliştirilmiştir. Ergonomik açıdan geliştirilmiş ve teknolojik olarak rekabetçi yapısıyla yüksek esneklik, üstün ölçüm doğruluğu, hızlı test süreleri ve minimum alan kullanımı sunar. Tüm bunlar düşük güç tüketimi ile birleşerek yenilikçi ve sürdürülebilir bir çözüm sağlar.

Compact sistemler özellikle şunlar için idealdir:
1. Analog ve dijital devre içi testler
2. Analog, dijital ve güç fonksiyonel testleri
3. Boundary Scan testleri
4. Dijital cihaz programlama (mikrodenetleyici, bellek vb.)
5. Yüksek voltaj testleri

Compact Line, test maliyetlerinin optimize edilmesine odaklanır; alan tasarrufu, kısa test süreleri ve atık azaltımı ön plandadır. Buna rağmen Strategy Line test programları ve fikstürleriyle tam uyumluluk korunur. Compact Line, test maliyetlerinin optimize edilmesine odaklanır; alan tasarrufu, kısa test süreleri ve atık azaltımı ön plandadır. Buna rağmen Strategy Line test programları ve fikstürleriyle tam uyumluluk korunur.

Tüm Compact sistemleri, Seica VIP Platformu, ACL sentezli sürü/algı enstrümanları ve VIVA yönetim yazılımı üzerine kuruludur. İhtiyaç hâlinde sistemler LabVIEW™, LabWindows™/CVI ve TestStand™ gibi alternatif yazılımlar ile de kontrol edilebilir.

Yeni performans veya ergonomi ihtiyaçlarında Seica, müşteri gereksinimlerine göre özelleştirilmiş Compact çözümleri sağlayabilir; üçüncü taraf yazılım ve enstrümanları entegre edebilir veya özel donanım/yazılım modülleri geliştirebilir.