Compact Digital Next

Dijital bileşenlerdeki hızlı gelişim, standart bir lojik analizörün sınırlarını aşan kabiliyetlerle donatılmış daha gelişmiş bir dijital test sistemine ihtiyaç duymaktadır. Modern endüstriyel üretim süreçleri, test sürelerini optimize etmek adına donanım seviyesinde güçlü işleme yetenekleri gerektirir. Eş zamanlı olarak, değişken voltaj seviyelerine sahip, tekli veya diferansiyel sinyalleri temel alan yeni lojik aileleri, test süreçlerine daha fazla karmaşıklık getirmektedir.

Compact DIGITAL Test System (DTS), hat içi test gerçekleştirme temel yeteneğini korurken; vektör tabanlı teknikler ve Boundary Scan gibi özel protokoller aracılığıyla entegre bileşenlerin test edilmesine yönelik pazar taleplerini karşılamak için geliştirilmiş ideal bir çözümdür

Compact Digital Next'in Öne Çıkan Özellikleri

ATE Kaynakları - ICT ve Fonksiyonel Test
Diğer tüm Seica çözümlerinde olduğu gibi, Compact DTS test sistemi de teknoloji entegrasyonu ile kullanım kolaylığını en iyi şekilde birleştirme kabiliyetine sahip olan VIP platformunu temel alır; böylece kullanıcının bir uzman olmasına gerek kalmadan hat içi ve fonksiyonel test süreçleri için gerekli olan tüm imkanları sağlar.

Bu yüksek performans düzeyi, tescilli ACL modülüne dayanan en son teknoloji ürünü ölçüm sistemi ve VIVA yönetim yazılımı sayesinde elde edilir. DSP teknolojisiyle donatılmış olan ölçüm sistemi, tam otomatik test yürütülmesini desteklerken tüm test kabiliyetlerini tek bir yapıda birleştirir. Ayrıca, Ana PC ile fiber optik kablo üzerinden gerçekleştirilen veri iletişimi, dış parazit kaynaklarına karşı hassasiyeti minimum seviyeye indirir. Basit ve kullanıcı dostu bir mantıkla geliştirilen yönetim yazılımı ise sistem yönetimi ve test rutinlerinin çalıştırılması süreçlerinde operasyonel bağımsızlık sunar. Fonksiyonel testlerin çok daha kısa sürelerde derlenmesi ve yürütülmesi için özel olarak tasarlanmış grafik tabanlı bir yazılım olan Quick Test modülü sayesinde operatör; sistemin dahili mimarisini veya özel bir programlama dilini bilmek zorunda kalmadan tüm sistem kaynaklarını doğru bir şekilde programlayabilir.

25 MHz'e kadar dijital test
ACL modülünün her TP üzerinde halihazırda 4 adet dijital kanala sahip olmasının yanı sıra, dijital test süreçlerine yönelik donanım altyapısı zaman içinde sürekli olarak geliştirilmiş ve F50 modülünde yer alan yüksek performans ve kapasite standartlarına ulaştırılmıştır.

Bu modül, 25 MHz seviyesine kadar kalıp (pattern) hızlarına ulaşabilen 32 dijital kanallı bir karttır. Sistem; 12V değerine kadar programlanabilir sinyal voltajına sahip dijital sürücüleri ve sensörleri, kart üzerindeki özel 256Kb dahili belleği ve saat sinyalinden bağımsız çalışma modunda da görev yapabilen 4 adet darbe üretecini (kartın her 8 kanalı için 1 adet) bünyesinde barındırır. Bu üreteç yapısı, modülün dijital kalıplara göre senkronize veya asenkron olarak çalışmasına imkan tanır. Tüm bu gelişmiş özellikler; 4 adet bağımsız frekans, periyot veya darbe ölçer yapısı ve 2 hatlı analog test kaynakları ile bir araya gelerek F50 modülünü sektör standartlarında öncü bir çözüm haline getirir.

Programlama Yazılımı
Elektronik test alanındaki otuz yıllık köklü deneyimden güç alan VIVA Ortamı, sistemi son derece esnek ve kullanımı kolay hale getiren zengin seçenekler ve kabiliyetler sunar. Bu yazılım; test programı oluşturma ve yürütme adımlarında operatöre rehberlik eden Fonksiyonel Grafik Ortamı sayesinde, test süreçlerinin hızlandırılması ve hata yakalama kapsamının artırılması amacıyla ICT ve fonksiyonel test adımlarının bir arada kombinasyonel olarak uygulanmasını sağlar. Dijital testlerin geliştirilmesi için program kontrolü, hata ayıklama (debug) ve yürütme işlemlerinin yapılabileceği özel bir NVL (Neutral VIVA Language) ortamı sunulmaktadır. Bu yapı, eksiksiz bir fonksiyonel test programı yürütmek amacıyla analog, dijital fonksiyonel ve sistem yönetimi komutlarının eşzamanlı olarak işlenmesine ve entegrasyonuna olanak tanır. Elektronik test alanındaki otuz yıllık köklü deneyimden güç alan VIVA Ortamı, sistemi son derece esnek ve kullanımı kolay hale getiren zengin seçenekler ve kabiliyetler sunar. Bu yazılım; test programı oluşturma ve yürütme adımlarında operatöre rehberlik eden Fonksiyonel Grafik Ortamı sayesinde, test süreçlerinin hızlandırılması ve hata yakalama kapsamının artırılması amacıyla ICT ve fonksiyonel test adımlarının bir arada kombinasyonel olarak uygulanmasını sağlar. Dijital testlerin geliştirilmesi için program kontrolü, hata ayıklama (debug) ve yürütme işlemlerinin yapılabileceği özel bir NVL (Neutral VIVA Language) ortamı sunulmaktadır. Bu yapı, eksiksiz bir fonksiyonel test programı yürütmek amacıyla analog, dijital fonksiyonel ve sistem yönetimi komutlarının eşzamanlı olarak işlenmesine ve entegrasyonuna olanak tanır. Elektronik test alanındaki otuz yıllık köklü deneyimden güç alan VIVA Ortamı, sistemi son derece esnek ve kullanımı kolay hale getiren zengin seçenekler ve kabiliyetler sunar. Bu yazılım; test programı oluşturma ve yürütme adımlarında operatöre rehberlik eden Fonksiyonel Grafik Ortamı sayesinde, test süreçlerinin hızlandırılması ve hata yakalama kapsamının artırılması amacıyla ICT ve fonksiyonel test adımlarının bir arada kombinasyonel olarak uygulanmasını sağlar. Dijital testlerin geliştirilmesi için program kontrolü, hata ayıklama (debug) ve yürütme işlemlerinin yapılabileceği özel bir NVL (Neutral VIVA Language) ortamı sunulmaktadır. Bu yapı, eksiksiz bir fonksiyonel test programı yürütmek amacıyla analog, dijital fonksiyonel ve sistem yönetimi komutlarının eşzamanlı olarak işlenmesine ve entegrasyonuna olanak tanır.

I2C veya SPI gibi protokolleri içeren bellek programlama uygulamalarında NVL mimarisi; standart Intel/Motorola (.bin, .mot, .hex) programlama dosyalarının sisteme kolayca entegre edilmesini ve doğrudan kullanılmasını sağlar. Harici prob veya dahili kanal üzerinden dalga biçimi (waveform) yakalama yeteneğine sahip grafiksel araç donanımı, dijital fonksiyonel testler sırasında ortaya çıkabilecek hataların onarım süreçlerini büyük ölçüde kolaylaştırır. VIVA yazılımının sahip olduğu açık mimari yapı, sistemin Python ve VBS gibi diğer popüler programlama dillerinin yanı sıra üçüncü taraf yazılım modülleriyle (.EXE ve .DLL) tam uyumlu şekilde çalışmasına imkan tanır.

Gelişmiş bir uygulama için farklı konfigürasyonlar
DTS test sisteminin dijital bölümü, farklı üretim gereksinimlerini karşılamak ve en yüksek test performansına ulaşmak amacıyla esnek şekilde konfigüre edilebilir:

- F50 kartının doğrudan dijital kanal bağlantısının kullanılması: Bu yapıda mevcut olan tüm sistem kaynakları tamamen dijital niteliktedir.

- F50 ve S64 kartlarının bir araya getirilmesiyle doğrudan hibrit kanalların oluşturulması: Bu entegrasyon yöntemi, Compact DTS test sisteminin sahip olduğu tüm dijital ve analog kaynakları doğrudan test noktalarında kullanıma sunar. Doğrudan kanal konfigürasyonuna sahip olan bu yapı, diğer test sistemleri için daha önceden üretilmiş mevcut fikstürlerin yeniden kazanılmasına ve kullanılmasına olanak tanır.

- Dijital kanalların çoklanması (multiplexing): Çok yüksek sayıda dijital kanal kullanımının gerekli olduğu senaryolarda, dijital kanalları çoklayan (1:8 oranında bile) maliyet etkin bir çözüm de uygulanabilir. Bu sayede DTS test cihazı, sistem kaynaklarını en üst düzeyde optimize eden tam teşekküllü bir dijital test sistemine dönüştürülür.

Compact Line, maksimum yapılandırılabilirlik sunmak üzere geliştirilmiştir; kullanıcıya uygulamasına en uygun çözümü seçme imkânı tanır, devre içi test cihazı, fonksiyonel test tezgâhı veya üretim hattına doğrudan entegre edilebilen tam otomatik bir test sistemi.

Yenilik, Yüksek Performans, Esneklik ve Verimlilik
Yalın üretim prensiplerine göre tasarlanan Compact Line, özellikle elektronik kart üretim ortamlarının ihtiyaçlarını karşılamak üzere geliştirilmiştir. Ergonomik açıdan geliştirilmiş ve teknolojik olarak rekabetçi yapısıyla yüksek esneklik, üstün ölçüm doğruluğu, hızlı test süreleri ve minimum alan kullanımı sunar. Tüm bunlar düşük güç tüketimi ile birleşerek yenilikçi ve sürdürülebilir bir çözüm sağlar.

Compact sistemler özellikle şunlar için idealdir:
1. Analog ve dijital devre içi testler
2. Analog, dijital ve güç fonksiyonel testleri
3. Boundary Scan testleri
4. Dijital cihaz programlama (mikrodenetleyici, bellek vb.)
5. Yüksek voltaj testleri

Compact Line, test maliyetlerinin optimize edilmesine odaklanır; alan tasarrufu, kısa test süreleri ve atık azaltımı ön plandadır. Buna rağmen Strategy Line test programları ve fikstürleriyle tam uyumluluk korunur.

Tüm Compact sistemleri, Seica VIP Platformu, ACL sentezli sürü/algı enstrümanları ve VIVA yönetim yazılımı üzerine kuruludur. İhtiyaç hâlinde sistemler LabVIEW™, LabWindows™/CVI ve TestStand™ gibi alternatif yazılımlar ile de kontrol edilebilir.

Yeni performans veya ergonomi ihtiyaçlarında Seica, müşteri gereksinimlerine göre özelleştirilmiş Compact çözümleri sağlayabilir; üçüncü taraf yazılım ve enstrümanları entegre edebilir veya özel donanım/yazılım modülleri geliştirebilir.

Benzer Ürünler