Compact Digital XL Next
Compact Digital XL Test sistemi, test altındaki ünitelerin (UUT) manuel veya otomatik yöntemlerle yüklenip boşaltılması amacıyla tasarlanmış vakum tipi bir alıcı (receiver) mekanizmasıyla donatılmıştır. Bu platform; MDA/ICT süreçlerinden karmaşık dijital kartların tam fonksiyonel testlerine, boundary-scan test uygulamalarından kart üzerinde programlama işlemlerine kadar uzanan, konfigüre edilebilir ve tam kapsamlı bir test çözümü sağlar. Diğer tüm Seica çözümlerinde olduğu gibi VIP platformunu (Viva Integrated Platform) temel alan bu yapı; modern elektronik sektörünün ihtiyaç duyduğu yüksek seviyeli test performanslarını sunmak adına ileri teknoloji donanım ve yazılım kabiliyetlerini tamamen entegre ve kullanıcı dostu bir ortamda bir araya getirir.
Sistemde yer alan VIVA Next> 64-bit yazılımı, test süreçlerinin her aşamasını pratik bir şekilde yönetmek için özel olarak geliştirilmiş zengin araç ve yardımcı program setleri sunar. Bu yapı bünyesindeki Test Studio modülü, operatörlerin VIVA VL, VIVA Quicktest, VIVA Flylab, TestStand, Labview, MS Excel veya Python gibi en çok aşina oldukları ya da tercih ettikleri yazılımları kullanarak fonksiyonel test sekansları geliştirmelerine imkan tanır. VIVA NEXT mimarisi; veri toplama, izlenebilirlik, MES sistemleri ile etkileşim ve onarım operasyonları dahil olmak üzere kullanıcıların üretim süreçleriyle akıllı bir entegrasyon gerçekleştirir.
Ayrıca, tüm Next> serisi sistemlerde entegre olarak bulunan Canavisia Endüstriyel İzleme çözümü; akım, voltaj tüketimi, şebeke beslemesi, sıcaklık ve ışıklı göstergeler gibi sistemin doğru çalıştığını teyit eden parametrelerin uzaktan izlenmesine olanak tanır. Bu altyapı, kestirimci bakım süreçleri için kritik veriler sağlarken sistemlerin güncel Endüstri 4.0 standartlarıyla tam uyumlu çalışmasını destekler.
COMPACT Line, en çeşitli test gereksinimlerini karşılayacak şekilde yapılandırılabilirliği en üst düzeye çıkarmak için tasarlanmıştır; kullanıcının uygulamaya en uygun konfigürasyonu seçmesini sağlar: devre içi test cihazı, fonksiyonel test tezgâhı veya doğrudan üretim hattına entegre edilebilen tamamen otomatik bir test çözümü.
Compact Line, maksimum yapılandırılabilirlik sunmak üzere geliştirilmiştir; kullanıcıya uygulamasına en uygun çözümü seçme imkânı tanır, devre içi test cihazı, fonksiyonel test tezgâhı veya üretim hattına doğrudan entegre edilebilen tam otomatik bir test sistemi.
Yenilik, Yüksek Performans, Esneklik ve Verimlilik
Yalın üretim prensiplerine göre tasarlanan Compact Line, özellikle elektronik kart üretim ortamlarının ihtiyaçlarını karşılamak üzere geliştirilmiştir. Ergonomik açıdan geliştirilmiş ve teknolojik olarak rekabetçi yapısıyla yüksek esneklik, üstün ölçüm doğruluğu, hızlı test süreleri ve minimum alan kullanımı sunar. Tüm bunlar düşük güç tüketimi ile birleşerek yenilikçi ve sürdürülebilir bir çözüm sağlar.
Compact sistemler özellikle şunlar için idealdir:
1. Analog ve dijital devre içi testler
2. Analog, dijital ve güç fonksiyonel testleri
3. Boundary Scan testleri
4. Dijital cihaz programlama (mikrodenetleyici, bellek vb.)
5. Yüksek voltaj testleri
Compact Line, test maliyetlerinin optimize edilmesine odaklanır; alan tasarrufu, kısa test süreleri ve atık azaltımı ön plandadır. Buna rağmen Strategy Line test programları ve fikstürleriyle tam uyumluluk korunur.
Tüm Compact sistemleri, Seica VIP Platformu, ACL sentezli sürü/algı enstrümanları ve VIVA yönetim yazılımı üzerine kuruludur. İhtiyaç hâlinde sistemler LabVIEW™, LabWindows™/CVI ve TestStand™ gibi alternatif yazılımlar ile de kontrol edilebilir.
Yeni performans veya ergonomi ihtiyaçlarında Seica, müşteri gereksinimlerine göre özelleştirilmiş Compact çözümleri sağlayabilir; üçüncü taraf yazılım ve enstrümanları entegre edebilir veya özel donanım/yazılım modülleri geliştirebilir.
English 
Türkçe